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Estudio comparativo entre los microcontroladores PIC16F887 y ATmega328P - pila, entradas y salidas, temporizador, interrupciones y memoria EEPROM.

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dc.contributor.author Schwendener Morales, Julio Javier
dc.date.accessioned 2023-12-05T21:59:36Z
dc.date.available 2023-12-05T21:59:36Z
dc.date.issued 2023
dc.identifier.uri https://repositorio.uvg.edu.gt/xmlui/handle/123456789/4811
dc.description Tesis. Licenciatura en Ingeniería Mecatrónica. Facultad de Ingeniería (70 p.). en_US
dc.description.abstract En la presente investigación, se comparó el desempeño de los microcontroladores PIC16F-887 y ATmega328P, haciendo énfasis en los módulos de entradas y salidas, pila, temporizador, interrupciones y memoria EEPROM. Para esto, se desarrollaron programas enfocados en el funcionamiento de cada uno de los módulos mencionados, basados en los programas propuestos por los laboratorios del curso de Programación de Microcontroladores de la Universidad del Valle de Guatemala. Los programas fueron implementados en ambos microcontroladores con los lenguajes C y ensamblador. Para evaluar el desempeño de los microcontroladores, se hizo uso de los Analizadores Lógicos, los cuales fueron conectados a los microcontroladores mientras ejecutaban los programas. Para el módulo de temporizadores, se obtuvo que el PIC16F887 tiene un rendimiento más estable, es decir, que los tiempos medidos varían en un rango menor de datos, y que su porcentaje de error entre el promedio y el valor teórico esperado, es menor. (A) en_US
dc.language.iso es en_US
dc.publisher Universidad del Valle de Guatemala en_US
dc.subject.ddc Análisis de circuitos eléctricos
dc.subject.ddc Electricidad - Dispositivos de distribución
dc.subject.ddc Electric circuit analysis
dc.subject.ddc Controladores de dispositivos (Programas para computador)
dc.subject.ddc Diseño de sistemas
dc.subject.ddc
dc.title Estudio comparativo entre los microcontroladores PIC16F887 y ATmega328P - pila, entradas y salidas, temporizador, interrupciones y memoria EEPROM. en_US
dc.type Public Thesis en_US


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